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X射线无损测厚仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，使用大铍窗超薄窗口高分辨率的SDD探测器，其探测器分辨率低为139eV，处于水平；产品采用上照式设计，多重防辐射保护装置以及X射线发生器，使辐射剂量符合国际规定；样品观察系统采用CCD、数字多道分析器、激光定位以及自主研发的测厚分析软件，各项指标均符合相关技术要求，技术达水平。
XRF2000镀层测厚仪主要应用于金属镀层银的测试，同时可以测试镀金、镀镍、镀锡、镀锌、镀铜、镀铑、镀钯、二元合金镀层等，整个过程全部通过电脑来操作，实现“傻瓜”式操作模式，简单的培训既可以进行操作，整个仪器测试基本没有耗材，降低了后期的使用成本。
应用行业：
1、电子半导体行业接插件和触点的厚度测量。
2、印刷线路板行业功能镀层厚度测量。
3、***属首饰手表行业镀层厚度测量。
4、五金电镀行业各种防腐性、装饰性及功能镀层厚度测量。
更多产品信息来源：http://www.sh-jcx.com/fan2009-SonList-1090835/
https://www.chem17.com/st253946/erlist_1090835.html
X射线无损测厚仪应用说明